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薄膜变温电阻测试仪(TRT)

文章来源:西安赛瑞珂仪器仪表有限公司   更新时间:2018-02-07   阅读:17

薄膜变温电阻测试仪(TRT)
Variable-temperature Resistance Tester
在真空环境中可连续测量RT~1000℃范围内电阻随温度的变化


薄膜变温电阻测试仪(TRT)


薄膜变温电阻测试仪采用双电法测量高温、真空、气氛条件下的电阻和电阻率,可以用来分析样品的电阻率随温度变化曲线、电阻温阻系数、样品相变温度点。其广泛用于光电、铁电、热电等各种导电材料的电阻率测量。

应用

 金属、半导体、导电高分子薄膜等材料电学性能随温度的变化
 表征样品的均匀度
 测量样品的相变温度点

 

产品特点

 采用高精度恒流源与电压表,确保测试的稳定性和精确性。
 采用自适应PID温控。
 自动检测样品接触特征曲线。
 可在真空或气氛(惰性气体)环境下测量电阻随温度变化。
 采用流行的USB2.0接口与计算机相连,数据采集迅速准确。
 用户界面直观友好,操作方便,可实时动态显示采集数据及状态。

 

 

 

 

技术参数

型号

TRT-1000

温度范围

RT~1000℃(自动控温,可连续采集)

电阻测量范围

1μΩ-100MΩ,准确度:±0.1%FS

温度测量精度

±0.5℃

恒流源

0.05μA~1A,准确度:±1%FSFS为满量程值)

电压

1μV~300V,准确度:±1%FSFS为满量程值)

测试的真空度

0.1~50Pa

样品尺寸

x :(5~20)x(5~20),单位mm,厚度:10nm-3mm

测试软件

界面友好,操作方便;可实时显示采集数据、测试状态已经测试结果

主机尺寸

500 x 450 x 580,单位mm

 
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