设为首页  |  加入收藏  |  关于我们  |  联系我们
  ◆  服务热线: 029-83214855   ◆  销售热线: 18629015785

霍尔效应测试系统(HET)

文章来源:西安赛瑞珂仪器仪表有限公司   更新时间:2018-02-07   阅读:0

霍尔效应测试系统(HET)
Hall Effect Test System
范德堡法测量材料的霍尔系数、电阻率、载流子浓度、迁移率等特性参数


霍尔效应测试系统(HET)

HET依据范德堡法则,测量材料的电运输性能、主要参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或薄层材料均可测量,可应用于所有半导体材料,包括Si、ZnO、SiGe、SiC,GaAs,InGaAs,InP,GaN(N型&P型均可测量),广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

产品特点

自主知识产权产品。
采用高精密度恒流源和电压表,确保仪器测试的良好准确度和高稳定性,性能优越。
自动控制磁场方向的改变,更加方便准确。
★  样品装夹方式快速方便,且使用能够解决欧姆接触的样品芯片。
产品工业外观采用一体化、精密化设计,融入人性化的设计理念,不仅赏心悦目而且操作方便。
智能化的用户界面操作简单,功能齐全的软件平台带给客户友好的操作体验,使测试过程更加方便快捷。
 

 

测试实例

 

技术参数

型号

HET-RT

HET-HT

磁场强度

0.68T

0.5T

磁场稳定性

±2/每年

温度范围

RT

100K~600K(可连续变温)

温控精度

\

±0.5K

输出电流

100pA-100mA

迁移率

1-107cm²/Volt-sec

阻抗

10-6to 107Ω·CM

载流子浓度

107 -1021cm-3

样品测量板

样品边长5~20mm,厚度10nm-3mm

样品边长5~15mm,厚度10nm-1mm

主机尺寸

570x545x380,单位mm

\

重量

50kg

80kg

 

 

 
销售咨询热线
029-83214855
销售咨询手机
18629015785