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热电参数测试系统(Namicro)

文章来源:西安赛瑞珂仪器仪表有限公司   更新时间:2018-02-07   阅读:4

热电参数测试系统(Namicro)
Thermoelectric Parameter Test System
采用专利技术原理,同时无损检测多种材料的Seebeck系数和电阻率
 


热电参数测试系统(Namicro)

Namicro-3采用动态法(具有专利技术)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。
Namicro-3主要是用于测试块体热电材料,包括康铜、镍、钨等金属,Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物,以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。


产品特点

拥有独立知识产权,获得多项技术专利。
采用动态法测量Seebeck系数,避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差,测量更准确。
热电偶不直接和样品接触,避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
 炉壳过温报警,自动断电保护。
友好的软件界面,操作简单,实时显示采集数据、测试状态和结果,采用智能化数据存储及处理算法。

测试实例




 

技术参数

型号

Namicro-3L

Namicro-3M

Namicro-3H

温度范围

RT~800°C

RT~1000°C

RT~1200°C

温控方式

PID程序控制

最大升温速率

50°C/min

真空度

≤50Pa

测试气氛

真空

测量范围

赛贝克系数:S ≥ 8µV/K 电阻率:0.1µΩ•m ~ 106KµΩ•m

分辨率

赛贝克系数:0.05µV/K 电阻率:0.05µΩ•m

相对误差

赛贝克系数 ≤±7%,电阻率 ≤±5%

测量模式

自动

样品尺寸

块体,长x宽:(2~5) x (2~5),单位mm;高度:10 ~ 18mm

主机尺寸

1000 x 400 x 500,单位mm

重量

75kg

 
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